技术测评 QA探针是否可用于Hipot测试？ 可以，Hipot测试是高电位测试的缩写，也称为介电耐压（DWV）测试。本试验对设备施加过电压条件，并用于验证设备中的电气绝缘 ... 2022-05-09 73
技术测评 当比较两个相同测试夹具的价格时，一个采用标准探针，另一个采用QA X Probes，它们的成本如何比较？ 视情况而定。无针套探针的用途是在密集的中心距放置较大探针。也就是说，X Probe 无针套技术是针对那些大量需要 75 mil、50 ... 2022-05-09 86
技术测评 美国QA探针之无针套的XProbe技术 相比传统探针和针套系统，QA 专利的 X Probe® 无针套设计概念采用更大更耐用的探针，用以在更密集中心距的区域进行安装。下 ... 2022-05-09 33
技术测评 测试仪-探针接口：转向直接探针自动测试设备取代低效的手动定位 自 1954 年德州仪器 (TI) 量产第一批晶体管以来，半导体自动测试设备 (ATE) 领域充满挑战和机遇 2022-05-04 47
