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以更密集中心距安装“更大”探针以延长探针寿命。
消除单个卡环针套可以提高指向精准性。
尽早用无针套探针替换传统探针，进行预防性维护。
多个设定高度支持满足各种测试探针高度要求。
品种繁多的针头和弹力选择适应各种测试目标。
提供 0.400 [10.16] 行程用于双段测试。
0.400 [10.16] 行程探针的减少行程选项 (-D) 在长探针中提供更高弹簧力。
双头端子用于无线测试夹具。
轻松融入夹具设计，适合所有测试平台：Agilent、GenRad、Teradyne及其他。
X Probe 无针套技术兼容所有现有制造和装配技术。
更大端子能够加快无针套夹具构造的钻孔时间。
相比传统针套/探针设计，X Probe 端子显著延长寿命。
