” 
QA Technology 的测试探针产品主要用于测试印刷电路板，以及连接测试夹具与自动测试设备 (ATE)
我们的测试产品采用两部分系统：一个探针和一个针套或端子。此系统在测试各种 UUT 配置（如目标类型和板制造工艺）时具有最佳电子接触性能。我们提供丰富的产品用于测试各种设备，包括功能和在线测试，以及应对不断变化的工业工艺挑战的解决方案.
传统 QA 测试探针和针套的功能与优势
随着电子产品体积的不断减小，需要更高电路密度封装才能在相同空间或者更小空间内装入更多元件。相比传统探针和针套系统，QA 专利的 X Probe 无针套设计概念可采用更大更耐用的探针，以更密集中心距进行安装。QA 的传统和 X Probe 系列都提供传统有线和双头无线配置
X Probe 无针套测试探针和端子的功能与优势
